環境（jìng）檢測設備測試項（xiàng）目及相關標（biāo）準

環境檢測設備測試項目及相關標準

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環境檢測設（shè）備測試項目及相關標準

1、  低溫試驗 按GB/T2423.1—89《電工電子產品環境（jìng）試驗第二部分：試驗方法低溫試驗》；

GB/T2423.22—87《電工電子產品環（huán）境試驗第二部分：試（shì）驗方（fāng）法溫度變化試驗方法》 進行低溫試驗及溫度變（biàn）化試驗。溫度範圍：-70℃～10℃。

2、  高溫試驗 按GB/T2423.2—89《電工電子產品環境試驗第二（èr）部分：試（shì）驗方法高溫試（shì）驗》；

GB/T2423.22—87《電工電子產品環境試驗第二部分：試驗方法溫（wēn）度變化試驗方法》 進行高溫試驗（yàn）及溫度變（biàn）化試驗。溫度範圍：10℃～210℃

3、  濕熱試驗 按GB/T2423.3—93《電工電子產品環境試驗（yàn）第二部分：試驗方法恒定濕熱試驗》；

GB/T2423.4—93《電工電子產品環（huán）境試驗第二部分（fèn）：試驗方法交變（biàn）濕熱試驗》 進行恒定濕熱試驗及交變濕熱試驗。濕（shī）度範圍：30%RH～100%RH

4、黴菌試（shì）驗

按GB/T2423.16—90《電工電子產品環境（jìng）試驗第二部分：試驗方（fāng）法長黴試驗》進行黴菌試驗。

5、鹽霧（wù）試驗 按（àn）GB/T2423.17—93《電工電（diàn）子產品環境試驗第二部分：試驗方法鹽霧試驗》進行鹽霧（wù）試驗。

6、低氣壓試驗 按GB/T2423.21—92《電工電子產品（pǐn）環境試驗第二部分（fèn）：試驗方法低氣壓試驗》； GB/T2423.25—92《電工電子產品環（huán）境試驗第二部分：試驗方法低溫/低氣壓試（shì）驗》；

GB/T2423.26—92《電工電子產品環境試（shì）驗第二部（bù）分：試驗方法高溫/低氣壓試驗》； 進行低氣壓試驗，高、低溫/低氣壓試驗。試驗範圍：-70℃～100℃0～760mmHg20%～95%RH。

7、振動試（shì）驗 按GB/T2423.10—95《電工電子產品環境試驗第二部分：試驗（yàn）方法振動試驗》進行振動試驗（yàn）。頻率（lǜ）範圍（wéi）（機械振動台）：5～60Hz（定頻振動5～80Hz），zui大位移振幅3.5mm（滿載）。頻率範圍（電磁振動台（tái））：5～3000Hz，zui大（dà）位移25mmP-P。

8、衝擊試驗（yàn） 按GB/T2423.5—95《電工電（diàn）子產（chǎn）品（pǐn）環境（jìng）試驗第二部分：試驗方法衝擊試驗》進（jìn）行衝擊試驗。衝擊加速度範圍：（50～1500）m/s2。

9、碰撞試驗 按GB/T2423.6—95《電工電子產品環境試驗第二部分：試驗方法碰撞試驗》進行碰撞試驗。

10、跌落試驗 按GB/T2423.7—95《電工電子（zǐ）產品環境試驗第二部分：試驗方法傾跌與翻（fān）到試驗》； GB/T2423.8—95《電工電子產品環境試驗第二（èr）部分：試驗方法自由跌落（luò）試驗》進行（háng）跌落試驗。

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