符合電子電器元件行業試驗標準（zhǔn）的冷熱衝擊試驗箱（xiāng）介紹與產（chǎn）品推薦

一（yī）、試驗標準依據與（yǔ）應用必要性

電子（zǐ）電器元件在使用、運輸及存（cún）儲過程中（zhōng），常麵臨溫度急劇變化環境，易引發材料疲勞、焊點開（kāi）裂、接觸不（bú）良、性能漂（piāo）移等問題。冷熱衝擊試驗是用於（yú）驗證產品環境適（shì）應性、開展可靠性篩選與（yǔ）質量控製的常（cháng）用測試手段，相關測試設備需符合國家、國際及行業通用試（shì）驗標準，以保障（zhàng）試驗過程規範、數據可追溯、結果具備參考價值。

本係列設備（bèi）可（kě）支持開展以下標準對應的試（shì）驗：

· GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009 電工電子產品環境試驗 溫度變化試驗

· GJB 150.5A-2009 軍·用裝備實驗室環（huán）境試驗方法 溫度衝擊試驗

· GJB 360B-2009 電子及電氣元（yuán）件試（shì）驗方法

· GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1:2007 低溫試驗方法

· GB/T 2423.2-2008/IEC 60068-2-2:2007 高溫試驗方法

· GB/T 10589-2008、GB/T 11158-2008 試驗箱技（jì）術條（tiáo）件

上述標準適用於各類電子（zǐ）元器件、組（zǔ）件、汽車電器、材料等產品的型式（shì）檢驗、出廠檢驗與可靠性驗證，可滿足生產企（qǐ）業、科研機構、檢測及認證等單位的常（cháng）規測試需求。

二、標準對試驗設備的基本（běn）要求

1.溫度（dù）範圍與衝擊（jī）區間滿（mǎn）足標準規定的高溫、低溫及溫度變化參數要求；

2.溫度均勻（yún）性、波動度等指標符合試驗箱技術條件與環境試驗方法要求；

3.具備穩定的（de）加熱、製（zhì）冷與風道循環係統（tǒng），可實現（xiàn）設定（dìng）條件下的溫度交變；

4.具備程序控製功能，可按試驗標準設（shè）定溫度（dù）、保持時間、循環次數（shù）等參數；

5.配置完好的安全保護裝（zhuāng）置，保障設備與測試（shì）樣品運行安全。

三、豆奶影院可程式冷熱衝擊（jī）試驗（yàn）箱（三（sān）箱式）產品介紹

產品概（gài）況

豆奶影院 HD-E703 係列（liè）三箱式可程式冷熱（rè）衝擊試驗（yàn）機，為電子元（yuán）氣件（jiàn）、電工、汽車電器及（jí）相關材料提供溫度（dù）衝擊環境測試條件，可（kě）用於可靠性試驗、產品篩選及質量控製，適用於電子、家（jiā）電、汽車、科研、檢測等領域。

結構與配置（zhì）（基於產品實測（cè）參（cān）數客觀描述）

1.整體式三箱（xiāng）結構，設高溫預熱區（qū）、低溫（wēn）預冷區、測試區，通過風門切（qiē）換（huàn）實現氣流循環，設備底部（bù）配有腳輪（lún）與腳杯，便於移動與定位。

2.箱體外殼采用冷軋鋼板加工處理，內膽采用 SUS304 不（bú）鏽鋼，保溫層采用聚氨酯硬（yìng）質發泡與玻璃纖維棉複合結構。

3.箱（xiāng）門配矽膠密封條與防爆式把手，測試區預留 Φ50mm 引線測試孔及隔熱密封配件，可滿（mǎn）足部分樣品帶電（diàn）測試（shì）需求（qiú）。

4.采用（yòng）進口品牌壓縮機（jī）組成二元式冷凍係統，使用環保製冷劑，搭配板式換（huàn）熱器，保障低溫穩定運行。

5.采用液晶觸摸式可編程控製器，支持 PID 自動調（diào）節，溫度顯示分辨率 0.1℃，配置 RS232、USB 等接口，便於數據存（cún）儲與導出。

6.具備超溫、過載、超壓、欠相 / 逆相、漏（lòu）電、故障報（bào）警及自動停機等多重保護（hù）功能。

核心技術參數（以型號 HD-E703-50S/HD-E703-100 為例）

· 內容積（jī）：50L / 100L

· 高溫範圍：RT~170℃

· 低溫範（fàn）圍：-75℃~RT

· 測試區溫度（dù）：-40℃~150℃、-55℃~150℃、-65℃~150℃（按機型配（pèi）置（zhì））

· 溫度衝擊範圍：高溫 60℃~150℃，低溫-10℃~-40℃/-55℃/-65℃（按機（jī）型配置）

· 溫度波動度、均勻度符合 GB/T 10589、GB/T 11158 及環境試驗方法標準要求

· 升溫、降溫速率及儲熱、儲冷時間符（fú）合產品設計指標，可滿足（zú）常規溫度（dù）衝擊試驗需求

· 電源：三相 380V 50Hz

適用樣品類型

可（kě）用於芯片、電（diàn）阻、電容、連接器、PCB 組件、車載電子部件、各類電子模塊等電子電器元件及材料的溫度衝擊測試。

四、產品推薦

結合電子電器元件行業常規（guī）測試需（xū）求，推薦以下兩款機型：

1.HD-E703-50S 可程式冷熱衝擊試驗機內容（róng）積 50L，適合小型電子元器件、芯片、連接器等樣品的（de）可靠性測試與篩選（xuǎn），占用空間較小，適配研發及小批量質（zhì）檢場（chǎng）景。

2.HD-E703-100 可程式冷（lěng）熱衝擊試驗機內容積 100L，適合 PCB 組件、中小型電子模塊（kuài）、車載電器部件等（děng）樣品測試，滿足批量試驗與常規型式檢驗需求。

五、說明

1.本內容基於產品技術文（wén）件客觀表述，不涉及功效斷言、絕對化描述及安全性（xìng）保證，設（shè）備使用效果與（yǔ）測試結果受樣品特性、操作規（guī）範、環境條件等因素影響。

2.產品（pǐn）技術參（cān）數、外觀、配置可能因優化升級調整（zhěng），具體以廠家正式產（chǎn）品規格書與合同約定為準。

3.設備使用前請（qǐng）仔細閱讀操作說明書，按相關（guān）試驗標準與安全規範操作。